Центр колективного користування науковими приладами

“Мікроскопічні та спектроскопічні методи дослідження поверхні твердих тіл”

Основні завдання Центру:

Дослідження морфології та складу поверхні твердих тіл, нанооб’єктів.

Користувачі Центру:

Відповідно до Положення про Центри колективного користування (Постанова Президії НАН
України № 322 від 28.04.2004), Центр надає можливість безкоштовних досліджень для
установ Національної академії наук України.

Обладнання Центру:

1. Аналітичний комплекс:
   • низьковакуумний скануючий мікроскоп JSM-6390LV (JEOL Ltd., Японія),
   • енергодисперсійний спектрометр X-Max 50 (OXFORD Instruments Analytical,
     Великобританія);
   • детектор дифракції електронів HKL Channel 5 EBSD (OXFORD Instruments Analytical,
     Великобританія).
2. Система комплексної прецизійної пробопідготовки зразків для електронної
   мікроскопії Leica EM TXP (Leica Microsystems, Німеччина).

Положення про Центр колективного користування науковими приладами (pdf)