Центр колективного користування науковими приладами

“Мікроскопічні та спектроскопічні методи дослідження поверхні твердих тіл”

Основні завдання Центру:

Дослідження морфології та складу поверхні твердих тіл, нанооб’єктів.

Користувачі Центру:

Відповідно до Положення про Центри колективного користування (Постанова Президії НАН
України № 322 від 28.04.2004), Центр надає можливість безкоштовних досліджень для
установ Національної академії наук України.

Обладнання Центру:

1. Аналітичний комплекс:
   • низьковакуумний скануючий мікроскоп JSM-6390LV (JEOL Ltd., Японія),
   • енергодисперсійний спектрометр X-Max 50 (OXFORD Instruments Analytical,
     Великобританія);
   • детектор дифракції електронів HKL Channel 5 EBSD (OXFORD Instruments Analytical,
     Великобританія).
2. Система комплексної прецизійної пробопідготовки зразків для електронної
   мікроскопії Leica EM TXP (Leica Microsystems, Німеччина).
3. Порошковий рентгенівський дифрактометр AERIS Research Edition (Malvern PANalytical)

4. Стенд для вимірювання світлотехнічних характеристик:

   • лазерна оптоволоконна система FC-455-10W (CNI, Китай);
   • спектрорадіометр GL SPECTIS 4.0 UV VIS NIR (GL Optic, Польща);
   • інтегруюча сфера GL OPTI SPHERE 500 (GL Optic, Польща);
   • програмне забезпечення GL SPECTROSOFT v. 407 PROF (GL Optic, Польща).