RU EN

Центр коллективного пользования научным оборудованием
"Микроскопические и спектроскопические методы исследования поверхности твердых тел"

Руководитель Центра - доктор физико-математических наук  Притула Игорь Михайлович

Заместитель - Добротворская Мария Викторовна, кандидат физико-математических наук.
тел. +38 057 341-03-14; e-mail: mdobro@isc.kharkov.ua

Основные задачи Центра:

Комплексные исследования морфологии, состава, электронной структуры, механических и электрофизических свойств поверхности кристаллов, тонких пленок, нанообъектов.

Пользователи Центра:

В соответствии с действующим Положением о Центрах коллективного пользования (Постановление Президиума НАН Украины № 322 от 28.04.2004), Центр предоставляет возможность бесплатных измерений характеристик материалов для учреждений Национальной академии наук Украины.

Оборудование Центра:

• Аналитический комплекс: низковакуумный сканирующий микроскоп JSM-6390LV (JEOL Ltd., Япония), энергодисперсионный спектрометр X-Max 50 , детектор дифракции электронов HKL Channel 5 EBSD (OXFORD Instruments Analytical, Великобритания);
• Аналитический комплекс: сканирующий микроскоп JSM-820 (JEOL Ltd., Япония), энергодисперсионный спектрометр LINK AN 10.000 (LINK Analytical, Великобритания).
Предназначены для электронно-микроскопических исследований морфологии поверхности, определения локального состава, микротекстуры и идентификации фаз кристаллов, керамики, сплавов, пленок, покрытий.
• Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр XPS-800 (Kratos, Великобритания).
Предназначен для проведения исследований электронной структуры и состава поверхности твердых тел, послойного анализа с помощью травления поверхности ионным пучком.
• Электронный просвечивающий микроскоп ЭМ-125 ( Сумы, Украина).
Предназначен для проведения исследований микроструктуры и фазового состава объектов.
• Сканирующий зондовый микроскоп Solver Р47Н-PRO (NT-MDT Россия).
Предназначен для исследования топографии, механических и электрофизических свойств поверхности твердых тел.
• Спектрофотометр Lambda 35 (Perkin-Elmer, США).
Предназначен для исследования спектров пропускания и отражения (в том числе, диффузного) твердых тел и жидкостей.